Characterization of Materials (2. Ausgabe)

Das Nachschlagewerk beschreibt Techniken, die von ausgereifteren mechanischen, thermischen und elektrischen Prüfverfahren bis hin zu modernen, strahlbasierten Verfahren reichen, die in großen wissenschaftlichen Einrichtungen weltweit eingesetzt werden. Die immer wichtigere Rolle der Berechnung zur Vorhersage und zum Verständnis von Materialeigenschaften wird durch ein aktualisiertes Kapitel über rechnerische und theoretische Methoden unterstützt. Die zweite Ausgabe beinhaltet auch die neuesten Erkenntnisse zu Instrumenten, Techniken und Analysen. In vielen Bereichen sind leistungsfähigere Charakterisierungswerkzeuge entstanden, darunter alle Formen von Rastersondenmikroskopen, leistungsfähigere Röntgenquellen, eine völlig neue Generation von Elektronenmikroskopen, verbesserte Verwendungsmöglichkeiten von Neutronen und Neutronenpolarisation, sowie eine weitaus robustere Rechenleistung für die Modellierung und Simulation. Mehrere Artikel zeigen, wie diese verbesserten Werkzeuge die Charakterisierung völlig neuer Materialtypen ermöglichten, darunter Nanomaterialien von Quantenpunkten über Nanophotonik bis hin zu Nano-Verbundstoffen, als auch Untersuchungen zu Spintronik- und quantencomputerbezogenen Systemen.